質(zhi)譜法(fa)是一種用于測量(liang)(liang)物質(zhi)分子(zi)(zi)量(liang)(liang)和分子(zi)(zi)結構的(de)方法(fa)。與(yu)其他(ta)方法(fa)不同(tong)的(de)是,樣品(pin)經電離(li),離(li)子(zi)(zi)化合物被激發,分子(zi)(zi)離(li)子(zi)(zi)斷裂成各種碎片離(li)子(zi)(zi),每(mei)個碎片都有各自的(de)質(zhi)荷比(m/z),它們分(fen)別聚焦在(zai)不同的點(dian)上,形成質譜圖,從(cong)而確定物質分(fen)子量和分(fen)子結構(gou)。

質譜儀的原理圖(圖片來源:迪信泰檢測平臺)
質譜儀主要由真空系統(tong)、進(jin)樣系統(tong)、離子(zi)源、質量分(fen)析器、檢測(ce)器等(deng)部分(fen)組成。
真空系統:離子(zi)源(yuan)的真空度要保持(chi)在10-3~10-5Pa,質量分析器的真空度要保持10-6Pa。
進樣(yang)系(xi)統:可以分(fen)為直(zhi)接進樣(yang)和色譜進樣(yang)。單組分(fen)、高沸點的液(ye)體樣(yang)品可以采用直(zhi)接進樣(yang)。色譜進樣(yang)一般是(shi)液(ye)質(zhi)聯用或氣質(zhi)聯用等儀器,適用于分(fen)析(xi)多組分(fen)。
離(li)(li)子(zi)(zi)源(yuan):目前(qian)常用的離(li)(li)子(zi)(zi)源(yuan)有電(dian)子(zi)(zi)電(dian)離(li)(li)源(yuan)、場電(dian)離(li)(li)源(yuan)、快原子(zi)(zi)轟擊源(yuan)、激光解吸源(yuan)、電(dian)噴霧電(dian)離(li)(li)源(yuan)、大氣壓化學電(dian)離(li)(li)源(yuan)等。
質量分析(xi)器:目(mu)前常用的質量分析(xi)器有磁式分析(xi)器、四(si)極桿分析(xi)器、離子阱分析(xi)器、飛(fei)行時(shi)間(jian)分析(xi)器等。
檢(jian)測(ce)器:常用(yong)的(de)檢(jian)測(ce)器有電(dian)子(zi)倍增器和光電(dian)倍增管。
傳統上質譜僅能分析(xi)M<2000的有機小分(fen)子,近年來質譜的研究(jiu)范圍不斷擴大至(zhi)M>100000的大分(fen)子,特別是(shi)多(duo)肽的研究(jiu)。
質譜發展史
1912年,J.J.Thomson研(yan)制出第一臺質譜(pu)。
1918年(nian),F.L.Arnot和J.C.Milligan磁扇面方向聚焦質譜。
1946年(nian),W.E.Stephens發明了飛行時間(TOF)裝(zhuang)置。
1953-1958年,W.Paul發明了四極(ji)桿質(zhi)譜(pu)分析(xi)儀。
1966年(nian),F.H. Field發明了化(hua)學電離。
1968年,C.R. Blackley團隊發現了“電(dian)噴霧(wu)”方法(fa)。
C.Gohlke和F.McLafferty共同發明了氣相色譜聯(lian)用,后者于1973年(nian)進一(yi)步引入液相色譜聯(lian)用。
本文由迪信泰檢測平臺(Biotech-Pack-Analytical)整理編輯。
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