1、基體金屬磁性質
磁(ci)(ci)性(xing)(xing)法測厚受基體(ti)(ti)金(jin)屬磁(ci)(ci)性(xing)(xing)變化的(de)影(ying)響（在實(shi)際應用中，低碳鋼磁(ci)(ci)性(xing)(xing)的(de)變化可以認為(wei)是輕微的(de)），為(wei)了避免熱處理和冷(leng)加工因素的(de)影(ying)響，應使用與試(shi)件基體(ti)(ti)金(jin)屬具有相同性(xing)(xing)質的(de)標準(zhun)(zhun)片對儀器進(jin)行(xing)校準(zhun)(zhun)；亦可用待(dai)涂覆試(shi)件進(jin)行(xing)校準(zhun)(zhun)
基(ji)體(ti)金屬電(dian)性(xing)質 基(ji)體(ti)金屬的電(dian)導率(lv)對(dui)測量有(you)影響，而基(ji)體(ti)金屬的電(dian)導率(lv)與其(qi)材料(liao)成(cheng)分及熱處理(li)方法有(you)關。使(shi)用與試(shi)件(jian)基(ji)體(ti)金屬具(ju)有(you)相同性(xing)質的標準片(pian)對(dui)儀器進(jin)行校準。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
3、邊緣效應
儀器對試(shi)件表(biao)面形狀的(de)陡變敏感。因此在靠近(jin)試(shi)件邊緣或(huo)內轉(zhuan)角處進行測量是不可靠的(de)。
4、 曲率
試件(jian)的曲(qu)率對(dui)測(ce)量(liang)有影(ying)響。這種影(ying)響總是隨(sui)著曲(qu)率半徑的減少(shao)明顯(xian)地增大。因(yin)此，在彎曲(qu)試件(jian)的表面上測(ce)量(liang)是不可靠的。
5、試件的變形
測頭會(hui)使軟覆蓋層(ceng)試件變形，因此在(zai)這些試件上測不(bu)出可靠的數據。
6、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
7、附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
8、 測頭壓力
測頭(tou)置(zhi)于試件上所施(shi)加的壓(ya)力大小會影(ying)響測量的讀數，因此，要保持(chi)壓(ya)力恒定。 ;
9、測頭的取向
測(ce)頭(tou)的放置方式(shi)對測(ce)量(liang)有影響。在測(ce)量(liang)中(zhong)，應當使測(ce)頭(tou)與試樣表(biao)面保持(chi)垂直。